X射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920是電子電鍍行業(yè)使用zui多的一款X射線無損鍍層測厚儀，適合PCB電子線路板電鍍層小點多點連續(xù)測試，電子線路板行業(yè)用戶zui多和口碑很好的一款設(shè)備。

X射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920特點概述：

1、新型號設(shè)計

快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度

多款規(guī)格，例如標(biāo)準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺，滿足所有樣品類型

開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等

符合ISO3487和ASTM B568檢測方法

2、高性能、高精度、長期穩(wěn)定性

快速的分析帶來生產(chǎn)成本*化

測定元素厚度

優(yōu)化的性能可滿足廣泛的元素測量

3、堅固耐用的設(shè)計

可靠近生產(chǎn)線或在實驗室操作

生產(chǎn)人員易于使用

4、簡單的校準調(diào)試

在沒有標(biāo)準片時，經(jīng)驗系數(shù)法或基本參數(shù)法可以提供簡單可靠的定量結(jié)果

方法建立只需幾分鐘

我們提供認證標(biāo)準片以確保*度（A2LA 和 ISO/IEC17025）

預(yù)置了多種校準參數(shù)

/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920預(yù)置800多種容易選擇的應(yīng)用參數(shù)/方法

的長期穩(wěn)定性：

自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正，

確保穩(wěn)定的測試結(jié)果

例行進行簡單快 速的波譜校 準，可自 動檢查

儀器性能（例如靈敏性）并進行必要的修正

避免不同操作的結(jié)果偏差

鐳射聚焦

簡單的“定點-按鍵”操作將樣品聚焦　

固定焦距高度： 0.5” (12.7 mm)

可分析不同形狀和尺寸的樣品

多準直器

靈活選擇準直器，優(yōu)化測試結(jié)果

*的靈敏性和分析速度

zui多可配6個準直器，提高應(yīng)用能力

的系統(tǒng)安全性

為日常操作員設(shè)定簡單的、功能受限的用戶界面

管理員可進入系統(tǒng)進行維護

系統(tǒng)使用由操作者登錄

自動鎖定功能防止未授權(quán)的操作

結(jié)果輸出

結(jié)果可導(dǎo)出Excel表格或報告生成自定義

用戶可自定義統(tǒng)計分析格式

包括統(tǒng)計分析數(shù)據(jù)

獲取樣品圖象到報告中

/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920樣品臺介紹：

1、加深樣品臺

高度每半英寸(12.7mm)可調(diào)，架構(gòu)式樣品艙可容納zui大高度6.3"(160mm)的樣品

2、固定樣品臺

樣品臺位置固定，經(jīng)濟、實用，平面樣品臺設(shè)計，適合高，度不超過1.3"(33mm)的樣品分析

3、程控樣品臺

用于自動化測量，方便根據(jù)測試位置放置樣品，并精準定位測量點，樣品臺尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (寬)，程控臺移動距離：7" x 7"，即178mm x 178mm

/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920符合以下標(biāo)準：

ASTM B568: X射線光譜儀測量鍍層厚度的標(biāo)準測試方法

ISO 3497: 金屬鍍層 — X 射線光譜法測量鍍層厚度

可分析多種樣品形狀和尺寸

可分析多種樣品類型，從微小的電子元件到浴室配件

提供多種硬件供選配，滿足各種需要

射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920應(yīng)用行業(yè)如下：

1、電子行業(yè) - 有效控制生產(chǎn)過程，提高生產(chǎn)力

分析電子件上的金和鈀的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu

測量線路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy

2、五金電鍍行業(yè) - 電鍍表面處理的成本zui小化，產(chǎn)量zui大化

多樣品和多點分析

單層或多層厚度測量

鍍液成份分析

3、貴金屬/金屬合金 - 珠寶及其他合金的快速無損分析

分析及其他元素測定

貴金屬合金檢測

4、*性檢測 -  確保產(chǎn)品符合規(guī)格

測定有害物質(zhì)從ppm級到高百分比級

有毒元素定量分析，例如檢測鎘、汞、鉛等含量是否符合規(guī)定

按照IEC62321進行RoHS篩選

對航空焊料可靠性鑒定進行高可靠檢測

5、新能源行業(yè) - 確保產(chǎn)品有效*

光電池薄膜吸收層（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析

通過鍍層厚度分析優(yōu)化導(dǎo)電性

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